我們常看到的(de)一些(xie)3C產品，里面(mian)都有安裝(zhuang)鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)，鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)具有高(gao)能(neng)量密度(du)、高(gao)電(dian)(dian)(dian)壓、壽命長、無(wu)記憶(yi)效應等(deng)優點，是21世紀發展的(de)理想電(dian)(dian)(dian)源。鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)可廣(guang)泛應用(yong)于 3C 也(ye)被稱為手機、平板電(dian)(dian)(dian)腦(nao)、筆記本電(dian)(dian)(dian)腦(nao)、可穿戴設備等(deng)領域3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)容易因(yin)短路、過充(chong)等(deng)原因(yin)燒(shao)毀或(huo)爆炸，所(suo)以很危險(xian)3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)測試(shi)是鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)制造和(he)組裝(zhuang)的(de)重要環(huan)節，是實現鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)性能(neng)和(he)安全靠(kao)譜使用(yong)的(de)有力保(bao)障，3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)測試(shi)項目(mu)主要包括一致性、功能(neng)性、安全性、靠(kao)譜性和(he)工況模擬。

　　3C鋰(li)電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)(shi)對電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)(shi)模(mo)塊(kuai)的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)(shi)模(mo)塊(kuai)有兩種(zhong)，一(yi)(yi)種(zhong)是(shi)凱智通大電(dian)流彈(dan)片(pian)微針(zhen)模(mo)塊(kuai)，另一(yi)(yi)種(zhong)是(shi)pogo pin探針(zhen)模(mo)塊(kuai)。通過比較兩者(zhe)的優缺(que)點，我們可(ke)以更直觀地區分哪(na)一(yi)(yi)個更符(fu)合要求3C鋰(li)電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)(shi)要求。

　　從目前的市場趨勢來看，3C電子產品內部空間集成度高，pitch不斷縮小，日韓免費視頻:pogopin探針模塊小pitch該領域適應性差，只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩定性差。3C鋰電池測試對電流的需求很大，pogopin探針模塊能承載的額定電流僅為1A，在傳輸過程中，電流會在不同位衰減，導致連接不穩定。

　　無論面對(dui)小(xiao)間(jian)距還(huan)是大(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)，大(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)彈(dan)片微(wei)針(zhen)(zhen)模(mo)塊都有(you)很好的(de)應(ying)對(dui)方法。pitch在該領(ling)域，大(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)彈(dan)片微(wei)針(zhen)(zhen)模(mo)塊是可(ke)取的(de)pitch值(zhi)在0.15mm-0.4mm性能(neng)穩定(ding)(ding)靠譜。面對(dui)大(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)測試要求，大(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)彈(dan)片微(wei)針(zhen)(zhen)模(mo)塊可(ke)通過的(de)額定(ding)(ding)電(dian)(dian)流(liu)大(da)(da)到(dao)50A，在1-50A電(dian)(dian)阻恒定(ding)(ding)，幾乎沒有(you)電(dian)(dian)流(liu)衰減，具(ju)有(you)良好的(de)連接功能(neng)，可(ke)以很大(da)(da)限度(du)地保(bao)障3C鋰電(dian)(dian)池測試的(de)穩定(ding)(ding)性。

　　就(jiu)使(shi)用壽命(ming)而言，pogopin探(tan)針(zhen)模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)(kuai)的試(shi)驗壽命(ming)在(zai)于(yu)5w大(da)電(dian)流(liu)彈(dan)(dan)片微針(zhen)模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)(kuai)的試(shi)驗壽命(ming)約為20w以上，比(bi)較pogopin探(tan)針(zhen)模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)(kuai)整整多了四(si)倍！pogopin探(tan)針(zhen)模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)(kuai)為多組件(jian)結構(gou)，生(sheng)產(chan)工藝復雜，生(sheng)產(chan)難(nan)度高(gao)，交貨周期(qi)長；大(da)型電(dian)流(liu)彈(dan)(dan)片微針(zhen)模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)(kuai)為一體化彈(dan)(dan)片結構(gou)，輕(qing)、扁平，可根據客戶(hu)要求定(ding)制，生(sheng)產(chan)難(nan)度低，交貨周期(qi)短。相比(bi)之下(xia)，大(da)型電(dian)流(liu)彈(dan)(dan)片微針(zhen)模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)(kuai)的成本性能并不(bu)太高(gao)！

　　對(dui)比母(mu)座(zuo)測試良率，pogopin探針模組針對(dui)BTB連(lian)接器(qi)母(mu)座(zuo)幾乎無法(fa)實現(xian)，穩定(ding)性極差。大(da)(da)部分采用觸(chu)摸方案對(dui)應(ying)，母(mu)座(zuo)測試良率不到80%；母(mu)座(zuo)上(shang)有一種特(te)別的大(da)(da)電流彈(dan)片微(wei)針模塊對(dui)應(ying)方法(fa)。將(jiang)斜口型（也(ye)稱尖頭(tou)型）彈(dan)片頭(tou)插入連(lian)接器(qi)內端子，以(yi)保(bao)持一定(ding)的開度(du)，從而保(bao)障彈(dan)片的接觸(chu)面和(he)接觸(chu)面BTB連(lian)接器(qi)端子兩側(ce)保(bao)持接觸(chu)狀(zhuang)態，使測試穩定(ding)，母(mu)座(zuo)測試良率高達99.8%。

　
　大電流彈片微(wei)針(zhen)模塊測試效(xiao)率高，穩定性好。與(yu)同(tong)一產(chan)品測試前后相(xiang)比(bi)，連接器基本上看不(bu)到刺痕(hen)，不(bu)會對產(chan)品造成(cheng)任何損壞pogopin探(tan)針(zhen)電池測試模塊更(geng)值得選擇(ze)和信賴。