21世紀(ji)發(fa)展的理想(xiang)電(dian)(dian)(dian)(dian)源(yuan)。鋰電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)可(ke)廣泛應用于 3C 也被稱(cheng)為手機、平板電(dian)(dian)(dian)(dian)腦、筆記本電(dian)(dian)(dian)(dian)腦、可(ke)穿戴設備等(deng)領域，鋰電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)具(ju)有能(neng)量(liang)密(mi)度(du)高(gao)、電(dian)(dian)(dian)(dian)壓高(gao)、壽命長、無記憶(yi)效應等(deng)優點，3C鋰電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)是容易因短路(lu)、過充等(deng)原(yuan)因燒毀或爆(bao)炸，所以(yi)很危險3C鋰電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)測試(shi)是鋰電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)制造和(he)組裝(zhuang)的重(zhong)要(yao)環節，是實現(xian)鋰電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)性(xing)能(neng)和(he)安全靠譜使用的有力保障。3C鋰電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)測試(shi)項目主要(yao)包括一致性(xing)、功能(neng)性(xing)、安全性(xing)、可(ke)靠性(xing)和(he)工況模擬。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是日韓免費視頻:pogopin探針模(mo)塊。通過比較(jiao)兩者的優缺點，我們可以更直觀地區分哪一個更符(fu)合要(yao)求(qiu)(qiu)3C鋰電池(chi)測(ce)試要(yao)求(qiu)(qiu)。

　　從(cong)目前的(de)市場趨勢來看，3C電子(zi)產品(pin)內(nei)部空(kong)間集成度高，pitch不斷(duan)縮(suo)小，pogopin探針(zhen)模組在小pitch該領域適應(ying)性差，只能處理0.3mm-0.4mm之間的(de)pitch壽(shou)命和穩定(ding)性差。3C鋰電池測(ce)試對電流的(de)需求很(hen)大(da)，pogopin探針(zhen)模塊能承載的(de)額定(ding)電流僅為1A，在傳輸過(guo)程中，電流會在不同位衰(shuai)減，導致連接(jie)不穩定(ding)。

　　通大電流彈片微針模組

　　通大(da)電(dian)流(liu)彈片(pian)微針(zhen)模(mo)(mo)組無論(lun)是面(mian)(mian)對小間距還是大(da)電(dian)流(liu)，都(dou)有(you)很好的(de)(de)應對方法。在(zai)(zai)小pitch在(zai)(zai)該(gai)領域，大(da)電(dian)流(liu)彈片(pian)微針(zhen)模(mo)(mo)塊是可(ke)取的(de)(de)pitch值在(zai)(zai)0.15mm-0.4mm性(xing)能穩(wen)(wen)定(ding)可(ke)靠。面(mian)(mian)對大(da)電(dian)流(liu)測(ce)試(shi)要求，大(da)電(dian)流(liu)彈片(pian)微針(zhen)模(mo)(mo)塊可(ke)通過的(de)(de)額(e)定(ding)電(dian)流(liu)大(da)到50A，在(zai)(zai)1-50A電(dian)阻(zu)恒定(ding)，幾乎沒有(you)電(dian)流(liu)衰減，具有(you)良好的(de)(de)連接功能，可(ke)以很大(da)限度地(di)保障3C鋰電(dian)池測(ce)試(shi)的(de)(de)穩(wen)(wen)定(ding)性(xing)。

　　pogopin探針模組

　　就使用壽命(ming)而言，pogopin探(tan)針模(mo)塊的(de)試驗壽命(ming)在于5w大(da)電(dian)流彈片(pian)(pian)微(wei)針模(mo)組(zu)(zu)的(de)試驗壽命(ming)約(yue)為(wei)20w以上(shang)，比(bi)較pogopin探(tan)針模(mo)塊整(zheng)整(zheng)多了四倍!況(kuang)且pogo pin探(tan)針模(mo)塊為(wei)多組(zu)(zu)件結構(gou)，生(sheng)產(chan)工藝復雜，生(sheng)產(chan)難度高，交(jiao)貨期長(chang);大(da)電(dian)流彈片(pian)(pian)微(wei)針模(mo)組(zu)(zu)是(shi)一種集成(cheng)(cheng)彈片(pian)(pian)結構(gou)，輕、扁平(ping)，可(ke)根據客戶要求定制，生(sheng)產(chan)難度低，交(jiao)貨期短。相(xiang)比(bi)之下，通(tong)大(da)電(dian)流彈片(pian)(pian)微(wei)針模(mo)組(zu)(zu)的(de)成(cheng)(cheng)本(ben)性能(neng)并不太高!

　　對(dui)(dui)比母座測試(shi)良(liang)率，pogopin針對(dui)(dui)探針模(mo)塊BTB連接器母座幾(ji)乎(hu)無法(fa)實(shi)現，穩定性極差。大部分采用觸摸方(fang)案對(dui)(dui)應(ying)，母座測試(shi)良(liang)率不到80%;母座上有(you)一種特別的通(tong)大電流彈片(pian)微(wei)針模(mo)組對(dui)(dui)應(ying)方(fang)法(fa)。將(jiang)斜口型(也稱尖頭(tou)型)彈片(pian)頭(tou)插入(ru)連接器內(nei)端(duan)子，以保持(chi)一定的開度，從而保障彈片(pian)的接觸面(mian)和接觸面(mian)BTB連接器端(duan)子兩側保持(chi)接觸狀態，使(shi)測試(shi)穩定，母座測試(shi)良(liang)率達到99.8%。

　　大電流彈片微針模組(zu)測(ce)試(shi)(shi)效率高，穩定性好。與(yu)同一產(chan)(chan)品測(ce)試(shi)(shi)前后相比，連接器(qi)基本上(shang)看不(bu)到刺痕，不(bu)會對(dui)產(chan)(chan)品造成任何損壞pogo pin電池測(ce)試(shi)(shi)模塊更值得選擇和(he)信賴。