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板對板連接器測試中,也可以用到pogopin探針模組

文章來源:勤誠科技 / 作者:勤誠科技 / 發表時間:2023-06-15
板對板連接器在手機、平板電腦和筆記本電腦的連接電路中起著重要作用,是3C產品中不可或缺的組件。作為電流傳輸能力快的連接器,板對板連接器在功耗、安裝、插拔、散熱等方面也具有優異的性能。現在的3C數碼產品越來越薄,板對板連接器也朝著更小的趨勢發展。然而,在操作過程中,板對板連接可能會出現故障,例如接觸不良、電纜斷開或電導率降低,這與板對板連接器的質量有關。通常,板對板連接器需要在制造后進行測試,在測試中可以用到:彈片微針模組、日韓免費視頻:pogopin探針模組。


雙排8pin連接器 (3).jpg

  在板(ban)對(dui)板(ban)連(lian)(lian)接(jie)器的(de)(de)(de)測試(shi)中,需(xu)要(yao)連(lian)(lian)接(jie)模(mo)塊,例如彈片(pian)微(wei)針(zhen)(zhen)模(mo)組(zu),作為電(dian)流(liu)傳導(dao)和(he)信(xin)號連(lian)(lian)接(jie)的(de)(de)(de)橋梁。在大(da)電(dian)流(liu)測試(shi)中,彈片(pian)微(wei)針(zhen)(zhen)模(mo)組(zu)可在1-50a范圍(wei)內傳輸電(dian)流(liu),電(dian)流(liu)穩(wen)定,連(lian)(lian)接(jie)功能良好。面對(dui)板(ban)對(dui)板(ban)連(lian)(lian)接(jie)器的(de)(de)(de)小間距(ju)(ju)問題,pogopin探針(zhen)(zhen)模(mo)組(zu)容易卡死和(he)斷(duan)針(zhen)(zhen),無(wu)法適應小間距(ju)(ju)領域的(de)(de)(de)測試(shi)。彈片(pian)微(wei)針(zhen)(zhen)模(mo)組(zu)是集成(cheng)的(de)(de)(de)薄(bo)片(pian)結構,在小間距(ju)(ju)領域具(ju)有自然優勢(shi)。它不僅具(ju)有良好的(de)(de)(de)導(dao)電(dian)性,而且保持穩(wen)定的(de)(de)(de)連(lian)(lian)接(jie),這有助于提(ti)高板(ban)對(dui)板(ban)連(lian)(lian)接(jie)器的(de)(de)(de)測試(shi)效(xiao)率(lv)。


  在板對板連接器測試中應注意以下幾點:


  1、板(ban)對板(ban)連(lian)接(jie)器工作時(shi),電流會(hui)在(zai)接(jie)觸點(dian)產生熱量,導致溫(wen)(wen)(wen)升。因(yin)此,板(ban)對板(ban)連(lian)接(jie)器的工作溫(wen)(wen)(wen)度應等于環境溫(wen)(wen)(wen)度和(he)(he)觸點(dian)溫(wen)(wen)(wen)升之和(he)(he).


  2、板對(dui)板連接(jie)器的絕緣性(xing)能會(hui)受到濕氣和(he)濕氣侵入的影響,金(jin)屬部件也會(hui)生銹。因此,有必要規(gui)定相(xiang)對(dui)濕度(du)(du)為(wei)90%~95%,溫度(du)(du)為(wei)+40±20℃.


  3、板(ban)(ban)對板(ban)(ban)連接(jie)器在含鹽(yan)霧的環境(jing)中(zhong)工(gong)作(zuo)時,接(jie)觸面和金(jin)屬結構(gou)件(jian)可能(neng)發生電化學腐蝕,影響(xiang)板(ban)(ban)對板(ban)(ban)連接(jie)器的電氣性能(neng),不能(neng)直接(jie)使用。


4pin貼片連接器 (3).jpg

  板(ban)對(dui)板(ban)連(lian)接(jie)(jie)(jie)(jie)器與公、母(mu)(mu)座配合(he)使用,封堵力是重要的力學性能。因此,試驗中還要求公、母(mu)(mu)座椅的連(lian)接(jie)(jie)(jie)(jie)和電流傳輸穩定。彈(dan)(dan)(dan)片微針模(mo)組的另一個優點是,它可(ke)以(yi)使用不同的頭類型來(lai)測試板(ban)對(dui)板(ban)連(lian)接(jie)(jie)(jie)(jie)器的公座和母(mu)(mu)座。具體(ti)地(di)說,鋸齒(chi)彈(dan)(dan)(dan)片接(jie)(jie)(jie)(jie)觸(chu)(chu)(chu)板(ban)用于接(jie)(jie)(jie)(jie)觸(chu)(chu)(chu)板(ban)連(lian)接(jie)(jie)(jie)(jie)器的公座,公座頂部的彈(dan)(dan)(dan)片多點接(jie)(jie)(jie)(jie)觸(chu)(chu)(chu)以(yi)保(bao)持接(jie)(jie)(jie)(jie)觸(chu)(chu)(chu)的穩定性;使用尖頭彈(dan)(dan)(dan)簧片與板(ban)對(dui)板(ban)連(lian)接(jie)(jie)(jie)(jie)器母(mu)(mu)座的兩側保(bao)持接(jie)(jie)(jie)(jie)觸(chu)(chu)(chu),以(yi)保(bao)持連(lian)接(jie)(jie)(jie)(jie)長期穩定。


  在(zai)板對板連(lian)(lian)接(jie)(jie)器(qi)的(de)(de)測試(shi)中,無(wu)需(xu)擔心彈(dan)片(pian)微針(zhen)模組(zu)對連(lian)(lian)接(jie)(jie)器(qi)造成的(de)(de)損壞。將相同的(de)(de)彈(dan)片(pian)微針(zhen)模組(zu)放在(zai)板對板連(lian)(lian)接(jie)(jie)器(qi)上(shang)(shang),并在(zai)500倍顯微鏡下比較(jiao)測試(shi)前后20次。可(ke)以看出,連(lian)(lian)接(jie)(jie)器(qi)基(ji)本上(shang)(shang)沒有(you)刺傷(shang)。可(ke)以證明,彈(dan)片(pian)微針(zhen)模組(zu)是(shi)性能穩定(ding)、使(shi)用安全的(de)(de)高效連(lian)(lian)接(jie)(jie)模塊。


  板對(dui)(dui)板連(lian)接(jie)器(qi)測(ce)(ce)試可(ke)以消除故障產品,確(que)保質量和(he)數量。應用(yong)于板對(dui)(dui)板連(lian)接(jie)器(qi)的彈片微(wei)針模組(zu)的平均使用(yong)壽命超過20W倍(bei)。它可(ke)以自由應對(dui)(dui)高頻(pin)測(ce)(ce)試。其彈片頭采用(yong)自清潔(jie)設計(ji),可(ke)避免雜質干擾,無需像(xiang)pogopin探針模組(zu)那樣(yang)頻(pin)繁更換。對(dui)(dui)于板對(dui)(dui)板連(lian)接(jie)器(qi)測(ce)(ce)試,可(ke)以大限度地提(ti)高測(ce)(ce)試效率(lv),完成測(ce)(ce)試過程。

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