我(wo)們常看到的(de)(de)一(yi)些(xie)3C產品，里(li)面都有(you)安裝鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)，鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)具有(you)高能(neng)量(liang)密度、高電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓、壽(shou)命長、無記憶效應等優點，是21世紀發展的(de)(de)理想電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)源。鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)可廣泛應用(yong)于 3C 也被稱(cheng)為手機、平板電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)腦、筆記本電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)腦、可穿戴設備等領域3C鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)3C鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)容易因(yin)短路(lu)、過充等原因(yin)燒毀或爆炸，所以很危險3C鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)測試是鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)制造和組裝的(de)(de)重要環節，是實(shi)現鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)性(xing)(xing)能(neng)和安全(quan)靠(kao)譜使用(yong)的(de)(de)有(you)力(li)保障，3C鋰(li)(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)測試項目主要包括一(yi)致性(xing)(xing)、功(gong)能(neng)性(xing)(xing)、安全(quan)性(xing)(xing)、靠(kao)譜性(xing)(xing)和工況(kuang)模擬(ni)。

　　3C鋰電池測(ce)(ce)試(shi)(shi)對電池測(ce)(ce)試(shi)(shi)模塊(kuai)的選擇很(hen)重要。目(mu)前市場上廣泛使(shi)用的電池測(ce)(ce)試(shi)(shi)模塊(kuai)有(you)兩種，一(yi)種是凱智通大電流彈片微針模塊(kuai)，另(ling)一(yi)種是pogo pin探針模塊(kuai)。通過(guo)比較兩者的優缺點，我們可以更(geng)直觀地區分(fen)哪一(yi)個更(geng)符合要求3C鋰電池測(ce)(ce)試(shi)(shi)要求。

　　從目前的市場趨勢來看，3C電子產品內部空間集成度高，pitch不斷縮小，日韓免費視頻:pogopin探針模塊小pitch該領域適應性差，只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩定性差。3C鋰電池測試對電流的需求很大，pogopin探針模塊能承載的額定電流僅為1A，在傳輸過程中，電流會在不同位衰減，導致連接不穩定。

　　無論面(mian)對(dui)(dui)小間距(ju)還是大電(dian)(dian)流(liu)，大電(dian)(dian)流(liu)彈片(pian)微針(zhen)模(mo)塊都有很好的(de)(de)應對(dui)(dui)方法。pitch在(zai)(zai)(zai)該領域，大電(dian)(dian)流(liu)彈片(pian)微針(zhen)模(mo)塊是可取的(de)(de)pitch值(zhi)在(zai)(zai)(zai)0.15mm-0.4mm性能穩定(ding)靠譜(pu)。面(mian)對(dui)(dui)大電(dian)(dian)流(liu)測試要求，大電(dian)(dian)流(liu)彈片(pian)微針(zhen)模(mo)塊可通過(guo)的(de)(de)額定(ding)電(dian)(dian)流(liu)大到(dao)50A，在(zai)(zai)(zai)1-50A電(dian)(dian)阻恒定(ding)，幾乎沒有電(dian)(dian)流(liu)衰減，具有良好的(de)(de)連(lian)接功能，可以(yi)很大限(xian)度(du)地保障3C鋰電(dian)(dian)池測試的(de)(de)穩定(ding)性。

　　就使用壽(shou)(shou)命(ming)而言，pogopin探(tan)針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)塊的試驗(yan)壽(shou)(shou)命(ming)在于5w大電流彈(dan)片微針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)塊的試驗(yan)壽(shou)(shou)命(ming)約(yue)為20w以上，比(bi)較pogopin探(tan)針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)塊整整多了四倍！pogopin探(tan)針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)塊為多組件結(jie)構，生(sheng)產工(gong)藝復雜(za)，生(sheng)產難(nan)度高(gao)，交貨周期長；大型電流彈(dan)片微針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)塊為一體化彈(dan)片結(jie)構，輕、扁平，可根(gen)據客戶要求(qiu)定制，生(sheng)產難(nan)度低，交貨周期短。相(xiang)比(bi)之下，大型電流彈(dan)片微針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)塊的成(cheng)本性(xing)能并(bing)不太(tai)高(gao)！

　　對比母(mu)座(zuo)測(ce)試(shi)良(liang)率(lv)(lv)，pogopin探針(zhen)模組針(zhen)對BTB連(lian)(lian)接(jie)(jie)器(qi)母(mu)座(zuo)幾乎無法實(shi)現，穩定(ding)性(xing)極差。大部分采(cai)用觸(chu)(chu)摸方(fang)案對應，母(mu)座(zuo)測(ce)試(shi)良(liang)率(lv)(lv)不(bu)到80%；母(mu)座(zuo)上有(you)一(yi)種特別(bie)的(de)大電(dian)流彈片微(wei)針(zhen)模塊對應方(fang)法。將斜口型（也稱(cheng)尖頭(tou)型）彈片頭(tou)插(cha)入連(lian)(lian)接(jie)(jie)器(qi)內端子(zi)，以保持一(yi)定(ding)的(de)開度，從而保障彈片的(de)接(jie)(jie)觸(chu)(chu)面和接(jie)(jie)觸(chu)(chu)面BTB連(lian)(lian)接(jie)(jie)器(qi)端子(zi)兩側保持接(jie)(jie)觸(chu)(chu)狀態，使測(ce)試(shi)穩定(ding)，母(mu)座(zuo)測(ce)試(shi)良(liang)率(lv)(lv)高達(da)99.8%。

　
　大(da)電流彈(dan)片微針(zhen)模塊測(ce)試效率高(gao)，穩定性好。與同一(yi)產品測(ce)試前(qian)后(hou)相比，連接(jie)器基本上(shang)看不到刺(ci)痕，不會(hui)對產品造成任何損壞pogopin探針(zhen)電池測(ce)試模塊更值得選擇和(he)信賴。