21世(shi)紀發展的理(li)想電(dian)(dian)(dian)源。鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)可廣泛應用于(yu) 3C 也被稱為(wei)手機(ji)、平板電(dian)(dian)(dian)腦(nao)、筆記本電(dian)(dian)(dian)腦(nao)、可穿戴設備等領域，鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)具有(you)(you)能量密度(du)高(gao)、電(dian)(dian)(dian)壓高(gao)、壽命長、無記憶效應等優點(dian)，3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)是容易因短(duan)路(lu)、過(guo)充等原因燒毀或爆炸(zha)，所以(yi)很危(wei)險3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)測(ce)(ce)試(shi)(shi)是鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)制造和組(zu)裝的重要環節，是實現鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)性(xing)能和安全(quan)靠譜(pu)使用的有(you)(you)力保障。3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)測(ce)(ce)試(shi)(shi)項目主要包括一致性(xing)、功能性(xing)、安全(quan)性(xing)、可靠性(xing)和工況模擬。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是日韓免費視頻:pogopin探針(zhen)模塊。通過比較兩者的優缺點，我們可以更直觀地區分(fen)哪一個更符合要(yao)求3C鋰(li)電池測試要(yao)求。

　　從目前的(de)市場趨勢來看(kan)，3C電(dian)(dian)子(zi)產品內(nei)部空(kong)間(jian)集成度高，pitch不斷縮(suo)小，pogopin探針模組在(zai)(zai)小pitch該領(ling)域適應性差，只能處理(li)0.3mm-0.4mm之間(jian)的(de)pitch壽(shou)命(ming)和(he)穩定性差。3C鋰電(dian)(dian)池測試對電(dian)(dian)流的(de)需求(qiu)很大，pogopin探針模塊(kuai)能承載的(de)額定電(dian)(dian)流僅為1A，在(zai)(zai)傳輸(shu)過程中，電(dian)(dian)流會在(zai)(zai)不同位衰減，導致連(lian)接不穩定。

　　通大電流彈片微針模組

　　通大(da)電流(liu)彈片微針模組無論是(shi)面對(dui)小(xiao)間距還(huan)是(shi)大(da)電流(liu)，都有(you)很好的(de)(de)應對(dui)方法。在(zai)小(xiao)pitch在(zai)該(gai)領(ling)域，大(da)電流(liu)彈片微針模塊(kuai)是(shi)可取的(de)(de)pitch值在(zai)0.15mm-0.4mm性(xing)能穩(wen)(wen)定可靠。面對(dui)大(da)電流(liu)測試要求，大(da)電流(liu)彈片微針模塊(kuai)可通過的(de)(de)額定電流(liu)大(da)到50A，在(zai)1-50A電阻恒定，幾(ji)乎沒有(you)電流(liu)衰減，具有(you)良好的(de)(de)連接功能，可以(yi)很大(da)限度地保(bao)障(zhang)3C鋰電池測試的(de)(de)穩(wen)(wen)定性(xing)。

　　pogopin探針模組

　　就使用(yong)壽命而言，pogopin探針(zhen)模(mo)塊的(de)(de)試(shi)驗壽命在于5w大電流彈片(pian)微針(zhen)模(mo)組(zu)的(de)(de)試(shi)驗壽命約為20w以上(shang)，比較(jiao)pogopin探針(zhen)模(mo)塊整整多了(le)四倍!況且pogo pin探針(zhen)模(mo)塊為多組(zu)件結(jie)構，生產工藝復雜，生產難度高(gao)，交(jiao)貨期(qi)長;大電流彈片(pian)微針(zhen)模(mo)組(zu)是一種集(ji)成彈片(pian)結(jie)構，輕、扁(bian)平，可(ke)根據客(ke)戶(hu)要求定制，生產難度低，交(jiao)貨期(qi)短。相比之下，通大電流彈片(pian)微針(zhen)模(mo)組(zu)的(de)(de)成本性(xing)能(neng)并不(bu)太(tai)高(gao)!

　　對(dui)比(bi)母(mu)座(zuo)測(ce)試(shi)良率(lv)，pogopin針對(dui)探針模(mo)塊(kuai)BTB連接(jie)(jie)器(qi)(qi)母(mu)座(zuo)幾(ji)乎無(wu)法(fa)實現，穩定(ding)性極(ji)差。大部分采用觸摸方案對(dui)應，母(mu)座(zuo)測(ce)試(shi)良率(lv)不到80%;母(mu)座(zuo)上有一(yi)種特別(bie)的通(tong)大電流(liu)彈(dan)片微針模(mo)組(zu)對(dui)應方法(fa)。將斜口型(也(ye)稱(cheng)尖(jian)頭型)彈(dan)片頭插入(ru)連接(jie)(jie)器(qi)(qi)內端子(zi)，以保持一(yi)定(ding)的開(kai)度，從而保障彈(dan)片的接(jie)(jie)觸面和接(jie)(jie)觸面BTB連接(jie)(jie)器(qi)(qi)端子(zi)兩側保持接(jie)(jie)觸狀態，使測(ce)試(shi)穩定(ding)，母(mu)座(zuo)測(ce)試(shi)良率(lv)達(da)到99.8%。

　　大(da)電流彈片微針模組測試效率高，穩(wen)定性好。與(yu)同一產品(pin)測試前后相比，連(lian)接器基本上看(kan)不到刺(ci)痕，不會(hui)對(dui)產品(pin)造(zao)成任何損壞pogo pin電池測試模塊更值得(de)選擇(ze)和(he)信賴(lai)。